绍兴半导体封装设备-二手半导体封装设备-苏州科兴达

什么情况下选择万用表OR示波器？

万用表：主要用于测试某一时间点的电压/电流值等

示波器：用以绘制电压/电流随时间变化的波形。

问题1：基于这两者的不同之处，半导体封装设备趋势分析，又怎样选择在什么样的测试条件中正确的选择并使用呢?

答：以电容充放电过程作为案例，工作原理以图1所示。使用5V直流电源给系统供电，当S1闭合时，电容处于充电状态；当S1断开时，电容处于放电状态。理想情况下，图2为充放电波形解析，其中Ta为电容充电完成所需的时间，半导体封装设备供应，Tb为电容放电完成所需的时间。

在全程测试中使用到致远电子的万用表（DMM6000）和示波器（ZDS4054 Plus）。

一般而言，测量混频器的幅度，相位和群时延响应特性要求网络分析仪外接本振。然而，在系统中，本振可能内置在被测的变频器件中，网络分析仪无法连接。此外，之前的测量方法也假定参考混频器必须采用和被测混频器相同的本振来驱动；如果网络分析仪内置本振的话就不用了。利用内置的本振源，安捷伦公司PNA微波网络分析仪新增的内嵌本振测量功能可以让用户准确地测量被测混频器的相对相位和群时延响应，而不用外接参考本振信号。简单的两步校准让用户把更多的时间花在测量器件上。测试条件得到优化可以程度地测量元器件，同时不降低测量质量。

混合信号示波器在许多复杂测试中的应用， 背景分析当代电子电路设计中，特别是嵌入式电路设计，绍兴半导体封装设备，面临很多新技术的挑战，如：更多的总线应用，更高速的时钟和数字信号，集成度更高的PCB设计，很多设计中还融入了RF功能。面对这样的设计工作，工程师需要相应的测试手段和工具，来完成比以往更加复杂的测试任务。为了解系统的整体工作特性，二手半导体封装设备，工程师只有同时测量模拟、数字信号，甚至包括总线信号，才能了解系统故障的原因和掌握信号和指令的时序和逻辑关系。

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